产品详情
  • 产品名称:美国 CMX超声波测厚仪

  • 产品型号:CMX
  • 产品厂商:美国DAKOTA公司
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简单介绍:
美国 CMX超声波测厚仪 (基体和涂层)测厚仪,(多功能超声波测厚仪)多种测量方式: 模式一:仅测量基体厚度模式二:仅测量涂层厚度模式三:同时测量基体和涂层的厚度。 美国 CMX超声波测厚仪
详情介绍:

美国 CMX超声波测厚仪

(基体和涂层)测厚仪,(多功能超声波测厚仪)多种测量方式: 模式一:仅测量基体厚度模式二:仅测量涂层厚度模式三:同时测量基体和涂层的厚度。

详情介绍:
美国DAKOTA CMX超声波测厚仪
(基体和涂层)测厚仪,(多功能超声波测厚仪)多种测量方式:
模式一:仅测量基体厚度模式二:仅测量涂层厚度模式三:同时测量基体和涂层的厚度。
CMX多层超声波测厚仪的详细介绍
CMX多层超声波测厚仪(基体和涂层)测厚仪:(多功能超声波测厚仪)
多种测量方式:
模式一:仅测量基体厚度
模式二:仅测量涂层厚度
模式三:同时测量基体和涂层的厚度
美国 CMX超声波测厚仪
多种显示模式
1. 数字式显示
2. B扫描显示
3. A扫描显示(仅CMX DL+)
增益可调节:超低、低、中、高、超高
增益值高可到110dB
自动增益控制(AGC)
时间增益校正(TCG)
探头自动识别,自动调零和温度补偿
数据存贮:可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
可存储64个用户参数设置
高速扫查(50次/秒)
高达140HZ的脉冲重复频率
 B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
A扫描波形显示和RF显示(CMX DL+)
差值测量模式
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的小值
上/下限声光报警功能
大值、小值显示
可通过软件与计算机进行数据交换,方便用户打印检测报告
性能参数
键    盘:12键按键
测量范围:
界面波-底波(P-E)方式:  0.63-508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式: 0.63-508mm
多层测量(PECT)方式:  0.63-508mm(基体) 0.01-2.54mm(表面涂层)    
穿透涂层测量(E-E)模式:  2.54-—102mm(因涂层的不同会有所变化)
仅测量涂层(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂层的不同会有所变化)
显示精度:0.01mm(可方便的进行公制和英制的转换)
声速范围:1250-13995m/s
工作温度:-10℃—60℃
探头类型:1—10MHZ双晶探头
探头接口:LEMO“00”,可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头
通讯接口:RS232接口(配备USB转RS232接头)
电池工作时间:150小时(3节5号碱性电池)100小时(3节5号镍镉电池)
省电功能:5分钟无任何操作后能自动关机
显 示 屏:62╳45.7mm(240 X 160像素),大数字厚度值显示(厚度值数字高度可达17.78mm)
外观尺寸:63.5X165X31.5MM
重量:382克
外壳:合金外壳

粤公网安备 44030902000341号